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출력 없음: 부하 응답이 없고 출력 전압이 매우 낮거나 0입니다. 일반적인 원인: 저전압 셀, MOSFET 손상, FUSE 끊어짐, PCB 트레이스 손상.
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충전 실패: 충전할 수 없거나 충전이 일찍 중단됩니다. 일반적인 원인: 과충전 보호가 재설정되지 않음, 충전기 불일치, 셀 전압 일관성 불량.
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로드를 구동할 수 없음: 정상 개방-회로 전압이지만 부하가 걸리면 전원이 차단됩니다. 일반적인 원인: 방전 MOSFET 온 저항 증가, 과전류 임계값이 너무 낮음.
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단락 보호 중 MOSFET 소손: 단락 보호를 실행하는 동안 MOSFET이 실패합니다. 일반적인 원인: 기생 인덕턴스로 인한 높은 전압, 과도한 턴오프 손실-
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단락 보호 실패: 단락 중에는 보호가 활성화되지 않습니다. 일반적인 원인: 감지 저항기 결함, IC-MOSFET 불일치, 과도한 IC 내부 지연.
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짧은 시간 후에는 자동 복구되지 않음: 단락이 제거된 후에도 잠긴 상태로 유지됩니다. 일반적인 원인: IC의 자동 복구 기능 부족, 출력 단자의 누출, 부하가 완전히 분리되지 않음.
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내부저항 대폭 증가: 방전 시 전압 강하가 심합니다. 일반적인 원인: FUSE/PTC 노후화, MOSFET 온 저항 증가, PCB 비아의 미세 균열.
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온도 보호 실패: 고온에서 전원 차단이 없고 저온에서 충전 제한이 없습니다. 일반적인 원인: NTC 저항 드리프트, 샘플링 회로의 접촉 불량, 부적절한 센서 배치.
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완전한 보드 무응답: 전류가 들어오거나 나가지 않습니다. 일반적인 원인: 전원 공급 라인 연결 끊김, 총 배터리 전압이 IC 시작 임계값 미만, 과도한 과방전으로 인한 영구 잠금.
전문 영어 번역
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